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• 喻文健，刘志强，  “互连线网的点到点电阻计算方法、装置、设备及介质”,   专利号：202310148492.8 (pending)
• 喻文健，宋明烨，  “非分层介质处理方法及装置、电子设备和存储介质”,   专利号：202211304553.7 (pending)
• 喻文健，杨定澄，  “模型蒸馏方法、装置、电子设备和可读存储介质”,   专利号：202211132040.2 (pending)
• 邵云，肖勇，程佳文，喻文健，  “运算单元的构架选择模型训练方法和构架选择方法”,   专利号：202210632181.4 (pending)
• 喻文健，刘志强，  “供电网络瞬态仿真方法、装置、设备和介质”,   专利号：202210632765.1 (pending)
• 喻文健，杨定澄，  “对抗样本图像生成方法及装置、电子设备和存储介质”,   专利号：202210481793.8 (pending)
• 喻文健，宋明烨，  “面向集成电路互连电容提取的高斯面建立方法”,   专利号：202210068011.8 (pending)
• 喻文健，刘志强，  “基于谱图稀疏化的芯片内超大规模供电网络并行仿真方法”,   专利号：202111251664.1 (pending)
• 杨明，喻文健，胡超，  “多介质预刻画数据处理方法、装置、电子设备及存储介质”,   专利号：202110957562.5 (pending)
• 喻文健，刘志强，  “基于谱图稀疏化的供电网络仿真方法及系统”,   专利号：202110412255.9. (pending)
• 喻文健，杨明，  “面向集成电路互连电容提取的多介质格林函数预刻画方法”,   专利号：202110191939.0
• 喻文健，杨定澄，  “基于多先验的黑盒对抗测试样本生成方法及装置”,   专利号：202011471422.9
• 喻文健，杨定澄，  “深度神经网络的模型压缩方法及系统”,   专利号：202010196651.8. (pending)
• 程学旗，刘盛华，喻文健，张嘉宝，冯文杰，沈华伟   “针对流式图的密集子图检测方法及系统”,   专利号：201811503421.0
• 喻文健，  “处理悬浮导体的随机行走电容参数提取方法”,   专利号：201711362811.6
• 喻文健，徐哲钊，张伯龙，  “一种面向触摸屏电容仿真的多介质预刻画方法”，  专利号：201610237910.0
• 喻文健，张超，  “适应非曼哈顿形体的随机行走电容参数提取方法与系统”，  专利号：201510750922.9
• 喻文健，张伯龙，  “电容参数提取方法”，  专利号：201510379334.9
• 喻文健，张伯龙，  “面向集成电路电容提取的多介质随机行走方法及系统”，  专利号：201410263947.1
• 喻文健，梁缘，  “用于芯片热分析的混合随机行走方法”，  专利号：201410023878.7
• 喻文健，张超，  “面向集成电路互连电容提取的线网高斯面采样方法与系统”，  专利号：201410016439.3.
• 喻文健，张超，  “面向集成电路互连电容参数提取的空间管理数据生成方法”，  专利号：201310388975.1.
• 喻文健，章涛，  “基于三维区域分解的芯片热分析方法”，  专利号：201310214732.6.
• 喻文健，翟匡亚，庄昊，  “基于GPU的集成电路电容参数提取系统及方法”，  专利号：201310076174.1
• 喻文健，庄昊，  “集成电路设计中基于随机行走的电容参数提取计算方法”，  专利号：201210105216.5.
• 王习仁，喻文健，王泽毅，  “硅集成电路衬底多频率点下综合耦合参数的快速提取方法”，  专利号：200610012140.6.
• 喻文健，魏洪川，王泽毅，  “基于开路环境导体的三维互连寄生电感快速提取方法”，  专利号：200510011954.3.
• 喻文健，王泽毅，古江春，  “一种用于虚拟多介质电容提取中最优切割数的生成方法”，  专利号：02130850.0.